芯片与半导体设备
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通用75mm内任意数码管数码屏,满足所有成品后测指标。通过视觉检测亮色不均杂物串光分光分色等。操作简单,单机效率1300-6000pcs/hr,可一人看两机效率倍增。行业用户超过300家。
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用于MCU或其他芯片的全自动烧录测试(配合用户的烧录测试模块),完成 tray to tray的芯片的高速搬移及测试座的装载及取出,最大效率3000pcs/hr(每芯片10S烧录测试时间下)
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越来越多的半导体晶圆需要在晶圆切割封装前进行晶圆级的检测,提前剔除不良品或进行可靠性测试,W6000实现探针卡和晶圆片的装载,并实现微针和全部芯片的高精度对准及组合
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散件器件管脚朝上排列于上料盘内,设备自动完成器件喂料,行列分离、成品后测、分光分色、激光或喷墨打标、料管分选包装。最大效率2000pcs/hr
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