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晶圆级探针检测装载机

W6000

常见问题:

越来越多的半导体晶圆需要在晶圆切割封装前进行晶圆级的检测,提前剔除不良品或进行可靠性测试,W6000实现探针卡和晶圆片的装载,并实现微针和全部芯片的高精度对准及组合

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越来越多的半导体晶圆需要在晶圆切割封装前进行晶圆级的检测,提前剔除不良品或进行可靠性测试,W6000实现探针卡和晶圆片的装载,并实现微针和全部芯片的高精度对准及组合

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